Fab 入门系列 · 简化图解用于理解原理,具体制造路线与系统能力请结合文中官方资料。

先按数据表达方式认识它们

同一对象与事件Lot / Wafer / Die / 时间图像与缺陷量测与电性传感器时序Recipe 与配置加工与维护履历分析与模型产物连接来源、单位、版本和加工顺序
数据来源与关联方式的概念示意。企业可访问的数据、格式和标识规则需要结合实际系统确认。
数据家族常见内容
图像与缺陷扫描或复查图像、候选对象、坐标和分类
量测与测试尺寸、膜厚、对准以及适用电性测试结果
设备传感器温度、压力、流量等随过程变化的记录
Recipe 与配置设定值、阶段安排、配置与版本
加工与维护履历设备、腔体、工步、时间、维护和批次事件
分析产物统计结果、派生特征、模型与运行记录

PDF Solutions 的分析产品介绍列出传感器、量测、缺陷、测试与履历等数据来源。这里按理解方式归类,具体企业系统可能采用不同名称。

设定值与实际过程,各自表达什么

Recipe 描述希望怎样加工,例如阶段、目标设定与执行条件。传感器记录设备实际过程中的变化。配置版本和加工履历则帮助确认这片晶圆采用了什么安排。

调查需要把它们对应起来:相同 Recipe 名称下是否存在不同版本?日志时间对应哪次加工?某个变化发生在设备的哪个阶段?这些连接关系决定参数比较的意义。

图像、地图和表格怎样互补

原图支持观察形貌与局部细节;空间地图便于查看位置关系;表格和派生特征便于分组与定量比较。同一观察可以在这些表达方式之间切换。

保留原图索引、坐标映射、候选筛选规则和特征计算方法,能让工程师从一个统计结果返回对应位置核查。

数据之间,需要哪些连接线

连接条件为什么重要
对象Lot、Wafer、Die 或区域标识,让结果落到正确对象
事件与时间连接扫描、加工、维护与测试的实际顺序
空间与单位说明坐标、区域、像素尺度和参数单位
来源与版本确认输入材料、Recipe、配置与分析方法的版本

只有部分连接条件时,应说明当前能支持的范围。例如,缺少相关履历时可以描述图像差异,设备归因则仍需要补充材料。

一个问题,选择相关的数据

核查径向集中,可以先从原图、区域和采样条件开始;研究某项设备条件的关联,则还需要可匹配的过程记录。数据需求由问题和分析方法决定。

数据理解每份材料表达一部分事实,明确的连接关系让它们支持同一轮调查。
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